Elipsometru experimental LCP-25

Scurta descriere:

Polarimetrul eliptic manual folosește metoda de stingere pentru a măsura grosimea și indicele de refracție al filmului și reglează manual abaterea și unghiul de abatere al procesului de testare.Elipsometria este utilizată pe scară largă în măsurarea filmului subțire dielectric pe substrat solid.În metoda de măsurare a grosimii filmului, acesta poate fi măsurat cu cea mai subțire și cea mai mare precizie.

Trimiteți-ne un e-mail

Detaliile produsului

Etichete de produs

Specificații

Descriere	Specificații
Interval de măsurare a grosimii	1 nm ~ 300 nm
Intervalul unghiului de incident	30º ~ 90º, eroare ≤ 0,1º
Unghiul de intersecție al polarizatorului și al analizorului	0º ~ 180º
Scara unghiulară a discului	2º pe scară
Min.Citirea lui Vernier	0,05º
Înălțimea centrului optic	152 mm
Diametrul etapei de lucru	Φ 50 mm
Dimensiunile per total	730x230x290 mm
Greutate	Aproximativ 20 kg

Lista de materiale

Descriere	Cant
Unitate de elipsometru	1
He-Ne Laser	1
Amplificator fotoelectric	1
Celula foto	1
Film de siliciu pe substrat de siliciu	1
CD cu software de analiză	1
Manual de instructiuni	1